基于平面成像器件的高分辨率工业CT技术研究

• 作者: 严壮志 张超 王黎明 赵英亮 韩焱
• 来源期刊: 中北大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 工业CT 检测分辨率 面阵探测器 亚像素重建
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 电子与电子信息
• 页码范围: 541-545
• 页数: 5页
• 分类号: TP274+.2
• 字数: 3738字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-3193.2007.06.015

摘要

在通用的CT成像系统中,由于面阵探测器像元之间无光隔,成像过程相对线阵探测器而言系统散射影响大,动态范围小,成像指标远低于线阵探测器.采用大探测器方法重组像元,用亚像素高分辨率方法重组和补偿数据,弥补了面阵探测器在动态范围的不足,同时充分利用了面阵的高空间分辨率,得到了较好的CT重建结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严壮志	上海大学信息与通信工程学院	80	604	13.0	21.0
2	韩焱	中北大学电子测试技术国家重点实验室	268	1539	18.0	24.0
3	赵英亮	中北大学电子测试技术国家重点实验室	15	45	5.0	6.0
4	王黎明	中北大学电子测试技术国家重点实验室	97	370	10.0	14.0
8	张超	中北大学电子与计算机科学技术学院	10	15	2.0	3.0