S781白漆在空间辐照环境下物性变化分析

• 作者: 丁义刚 冯伟泉 刘宇明 赵雪 郑慧奇
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: S781白漆 太阳吸收率 紫外辐照 质子辐照 综合辐照
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 型号环境工程研究与应用
• 页码范围: 235-238
• 页数: 4页
• 分类号: V416.5|V254.2
• 字数: 3513字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2007.04.011

摘要

文章研究S781白漆分别在紫外、质子和紫外+质子+电子综合辐照环境下太阳吸收率(αs)的退化情况,并利用X射线光电子能谱(XPS)和扫描电子显微镜(SEM)对样品表面的成分和形貌进行了分析.结果表明:S781白漆的αs受紫外辐照影响较小,但是在质子和综合辐照条件下退化明显.紫外辐照会对S781的硅树脂粘合剂产生裂解作用,质子辐照下样品表面会有污染形成,电子辐照会对深层的硅树脂性质产生影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁义刚		46	369	10.0	17.0
2	郑慧奇		28	115	7.0	9.0
3	刘宇明		38	223	8.0	13.0
4	冯伟泉		51	318	10.0	15.0
5	赵雪		14	88	6.0	8.0