用密度泛函和遗传算法研究Cun(n≤20)团簇的尺寸效应

• 作者: 刘智攀 王顺 范康年 陆靖
• 来源期刊: 化学学报
• 学科: 化学
• 关键词: 遗传算法 Gupta势 密度泛函 Cu团簇
• 年，卷（期）: 2007,（17）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1831-1835
• 页数: 5页
• 分类号: O6
• 字数: 2955字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0567-7351.2007.17.016

摘要

结合遗传算法和Gupta多体势系统地搜索金属团簇Cun(n≤20)的几何结构,并利用密度泛函方法进一步确定最稳定构型.分析了平均键长、平均配位数、结合能、二阶差分能、电离势和电子亲和势等性质随着尺寸的变化规律.发现在Cu7处团簇最稳定构型从二维结构转向三维结构,Cun(n≤20)团簇的幻数为8,13,20.团簇的键长、配位数和结合能属性随着尺寸的增长而递增最终接近相应的体相值;而二阶差分能、电离势和电子亲和势随着尺寸增加出现奇偶交替,说明偶数电子形成闭壳层结构,比相邻团簇更稳定.