基于嵌入式技术的电子标签质量检测系统

• 作者: 孙正捷 杨成忠 薛凌云
• 来源期刊: 杭州电子科技大学学报（自然科学版）
• 关键词: 电子标签 嵌入式技术 互感耦合
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 73-76
• 页数: 4页
• 分类号: TP216
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9146.2007.01.018

摘要

该文介绍了一款电子标签质量检测系统的设计和实现,系统应用于电子标签产品生产的质量检测环节.系统基于ARM嵌入式硬件平台,根据互感耦合原理,应用DDS频率合成技术、FIFO数据缓冲结构及数字信号处理技术实现了电子标签质量参数的精确测量.通过实验测试及现场运行证明,该系统检测精度高,运行稳定可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨成忠	杭州电子科技大学自动化学院	64	222	8.0	10.0
2	孙正捷	杭州电子科技大学自动化学院	2	12	1.0	2.0
3	薛凌云	杭州电子科技大学自动化学院	53	203	9.0	11.0