EFPI腔内损耗对干涉条纹可见度的影响

• 作者: 刘佳宇 安永丽 尹汝海 朱开宇 王文辕 邸志刚
• 来源期刊: 光纤与电缆及其应用技术
• 学科: 工学
• 关键词: 非本征F-P干涉仪 损耗 条纹可见度
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 理论研究
• 页码范围: 6-8
• 页数: 3页
• 分类号: TN253
• 字数: 1771字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-1908.2007.05.002

摘要

利用多光束干涉原理和几何光学方法,分析了非本征F-P干涉仪(EFPI)腔内损耗对干涉仪的影响,详细推导了EFPI腔长与反射光干涉条纹可见度之间的关系,确定了在可测条纹可见度的要求下EFPI腔长的范围.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王文辕	河北理工大学信息学院	8	41	3.0	6.0
2	尹汝海	河北理工大学信息学院	8	28	3.0	5.0
3	邸志刚	河北理工大学信息学院	19	87	5.0	8.0
4	朱开宇	河北理工大学信息学院	7	47	3.0	6.0
5	刘佳宇	河北理工大学信息学院	7	40	3.0	6.0
6	安永丽	河北理工大学信息学院	5	32	2.0	5.0