用Fourier分解法测量材料表面的Mueller矩阵

• 作者: 冯巍巍 吴云智 汪世美 魏庆农
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光学偏振 Mueller矩阵 Fourier分解 聚四氟乙烯
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 激光应用
• 页码范围: 714-720
• 页数: 7页
• 分类号: TN249
• 字数: 3611字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2007.06.011

摘要

测量系统采用双旋转延迟器结构,通过两个1/4波片的周期变化,对入射光、散射光的偏振态进行调制.由探测光强的25个Fourier分解系数可以计算得到样品的Mueller矩阵.为了检测测量系统的准确性,将测量的16个自由空间Mueller矩阵分量和理想情况下的自由空间Mueller矩阵分量进行比较,并给出了每个矩阵分量的标准误差.最后,通过测量聚四氟乙烯样品板的Mueller矩阵,定量地分析样品的退偏效应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏庆农	中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室	39	600	14.0	23.0
2	吴云智	中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室	2	4	1.0	2.0
3	汪世美	中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室	17	240	8.0	15.0
4	冯巍巍	中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室	21	126	7.0	10.0