拓扑指数与掺杂二硼化镁体系超导电性的关系

• 作者: 孙爱民 张涛 朱海滨 李彦炜 王顺青 陈团结 黄国海
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 拓扑指数 掺杂二硼化镁 超导电性
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 页码范围: 307-311
• 页数: 5页
• 分类号: O51
• 字数: 3029字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2007.04.012

摘要

构建了电性连接性指数mF和价电子能级连接性指数mE,计算了二硼化镁体及掺杂二硼化镁体系的0阶拓扑指数0F和0E,发现与超导转变温度Tc之间有良好的规律性,因此,本文提出以电性连接性指数mF和价电子能级连接性指数mE作为掺杂二硼化镁体系超导电性的新判据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙爱民	西北师范大学物理与电子工程学院	43	44	4.0	5.0
2	朱海滨	西北师范大学物理与电子工程学院	15	27	3.0	4.0
3	王顺青	西北师范大学物理与电子工程学院	8	22	3.0	4.0
4	张涛	西北师范大学物理与电子工程学院	18	25	3.0	4.0
5	黄国海	西北师范大学物理与电子工程学院	11	24	3.0	4.0
6	陈团结	西北师范大学物理与电子工程学院	6	9	2.0	2.0
7	李彦炜	西北师范大学物理与电子工程学院	7	9	2.0	2.0