高速互连链路的连通性和误码率测试

• 作者: 虞美兰
• 来源期刊: 高性能计算技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 连通性 误码率 边界扫描 内建自测试
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 高性能计算热点技术
• 页码范围: 56-59
• 页数: 4页
• 分类号: TP393.03
• 语种: 中文

摘要

芯片间的互连速率已经达到GHz量级,相比较于低速互连,高速互连的?试遇到了新的挑战.本文主要研究高速互连链路的连通性和误码率测试.针对上述两种测试,讨论了边界扫描和内建自测试两种可测性设计方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	虞美兰		6	8	2.0	2.0