便携式 X-射线透视仪图像非均匀性分析及校正

• 作者: 戚琦 李俊江 杨民 路宏年 郎田
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 射线成像 像元响应一致性 非均匀性校正 线性校正
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 信号检测、算法与仿真
• 页码范围: 336-340
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 2604字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2007.04.010

摘要

从射线场强度的非均匀性、转换屏响应不一致性和 CCD 相机像元光电响应不一致性三方面对便携式X射线透视仪图像非均匀性的产生机理进行了理论分析. 并在此基础上建立了透视仪每个像元通道光电响应的数学模型. 基于该模型,提出了一种多点线性拟合校正算法. 给出了应用本方法校正前后的图像结果及标准差对比情况. 本方法已应用于便携式安检排爆 X-射线检测系统.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	路宏年	北京航空航天大学机械与自动化学院	70	784	17.0	24.0
2	杨民	北京航空航天大学机械与自动化学院	41	287	10.0	15.0
3	戚琦	北京航空航天大学机械与自动化学院	2	7	1.0	2.0
4	李俊江	北京航空航天大学机械与自动化学院	12	98	5.0	9.0
5	郎田		1	1	1.0	1.0