电吸收调制激光器集成芯片的高频测试

• 作者: 侯广辉 刘宇 温继敏 王欣 祝宁华 谢亮 黄亨沛
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 光电子学 电吸收调制器 测试 散射参量
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 测量技术
• 页码范围: 1427-1430
• 页数: 4页
• 分类号: TN248.4
• 字数: 2163字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2007.10.024

摘要

提出了一种精确测试电吸收调制激光器(EML)集成芯片高频特性的方法.待测芯片制作在带有微带线的热沉上,同时采用光探测器作为光电转换器,二者构成待测双口网络.被测双口网络的一端是共面线,使用微波探针作为测试夹具加载信号,另一端是同轴线,两个测试端口不同,不能采用简单的同轴校准方法校准待测系统.测试过程中采用扩展的开路-短路-负载(OSL)误差校准技术对集成器件的测试夹具微波探针进行校准,扣除了测试中使用的微波探针对集成光源高频特性的影响,同时采用光外差的方法扣除了高速光探测器的频率响应对结果的影响,得到集成光源散射参数的精确测试结果.