基于单片机的多功能静电衰减测试仪

• 作者: 刘掬 魏光辉 黎晖
• 来源期刊: 仪表技术与传感器
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 衰减时间 计时 测试方式 仪器
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 仪器与仪表
• 页码范围: 11-12,71
• 页数: 3页
• 分类号: TP368.1|TP216
• 字数: 2030字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1841.2007.11.006

摘要

静电衰减时间常数是定量描述材料静电性能的重要物理量,可以通过测量静电电荷衰减时间达到测量静电的目的.在对现有静电测试方法以及各类静电衰减测试仪研究的基础上,基于单片机原理设计出多功能电荷衰减测试仪,它集充电法、电晕喷电法、摩擦法测试功能为一体,弥补了现有静电衰减测试仪功能单一的不足,利用单片机本身的定时计数功能得到精确的静电电荷衰减时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏光辉	军械工程学院静电与电磁防护研究所	186	1593	18.0	31.0
2	黎晖	军械工程学院静电与电磁防护研究所	6	44	3.0	6.0
3	刘掬	北京军事代表局驻石家庄地区军代室	2	7	2.0	2.0