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彩色显像管色纯性能分析与控制
彩色显像管色纯性能分析与控制
作者:
高少龙
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
色纯
着屏误差
色纯性能分析
色纯余量控制
摘要:
介绍了影响色纯的常见因素,其中包括与设计、工艺过程和显像管使用有关的因素,以及一些常见因素引起的电子束着屏变化的规律.介绍了通过对全屏面99点着屏误差数据的数学分析,得出各种相关因素/分量对着屏误差的贡献量从而进行着屏误差的改进,同时给出了对着屏误差进行控制的一些方法.
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显像管管座失效机理分析
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内容分析
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文献信息
篇名
彩色显像管色纯性能分析与控制
来源期刊
真空电子技术
学科
工学
关键词
色纯
着屏误差
色纯性能分析
色纯余量控制
年,卷(期)
2007,(3)
所属期刊栏目
工艺与应用
研究方向
页码范围
45-51
页数
7页
分类号
TN141.3
字数
5806字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1002-8935.2007.03.012
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
高少龙
1
0
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0.0
传播情况
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2007(0)
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二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
色纯
着屏误差
色纯性能分析
色纯余量控制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
真空电子技术
主办单位:
北京真空电子技术研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1002-8935
CN:
11-2485/TN
开本:
大16开
出版地:
北京749信箱7分箱
邮发代号:
创刊时间:
1959
语种:
chi
出版文献量(篇)
2372
总下载数(次)
7
总被引数(次)
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