Z-扫描技术测量(Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜非线性折射率

• 作者: 丁玲红 何家梅 张伟风 张婷
• 来源期刊: 河南大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: Z-扫描技术 非线性折射率 (Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 现代物理与材料科学
• 页码范围: 14-17
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 2907字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-4978.2007.01.004

摘要

描述了一种重要的测量多种物质的光学非线性折射率的单光束Z-扫描测试技术,被测样品放置于汇聚高斯光束的光轴(Z轴)上,样品在焦点附近沿Z轴移动,在远场处放置带有小孔的屏,通过测量样品的透过率与样品位置的关系,即可得到材料的非线性折射率.利用此技术,测量了(Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜样品的非线性折射率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张伟风	河南大学物理与电子学院	66	248	8.0	10.0
2	张婷	河南大学物理与电子学院	29	59	4.0	6.0
3	丁玲红	河南大学物理与电子学院	21	95	6.0	8.0
4	何家梅	郑州经济干部管理学院电信工程系	11	38	4.0	6.0