光缆选型测试中的拉伸和渗水问题及分析

• 作者: 吕捷 赵双旗
• 来源期刊: 现代电信科技
• 学科: 工学
• 关键词: 选型测试 拉伸 余长控制 渗水
• 年，卷（期）: 2007,（9）
• 所属期刊栏目: 泰尔测试
• 页码范围: 26-28
• 页数: 3页
• 分类号: TN92
• 字数: 3141字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-5316.2007.09.007

摘要

首先指出了光缆选型测试中容易出现问题的两项指标,即拉伸附加衰减和渗水性能.然后分析了这两项指标出现不合格的原因,包括光纤余长不足、使用劣质原材料等,并提出了相应的解决方法.重点分析了光缆的余长控制以及原材料的选择对光缆质量的重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕捷	信息产业部电信研究院泰尔实验室	1	2	1.0	1.0
2	赵双旗	信息产业部电信研究院泰尔实验室	1	2	1.0	1.0