LaAlO3顶层结构对LaAlO3-BaTiO3铁电超晶格薄膜性能的影响

• 作者: 刘云杰 李燕 邓宏 郝兰众
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 工学
• 关键词: 超晶格 应变 X射线衍射 剩余极化强度
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 材料研究
• 页码范围: 155-156
• 页数: 2页
• 分类号: TB43
• 字数: 2211字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-023X.2007.04.040

摘要

X射线衍射技术分析发现,通过生长一层较厚的LaAlO3顶层结构,可以把LaAlO3-BaTiO3超晶格中界面处的应变有效地控制在薄膜中,从而增加超晶格薄膜的平均面外晶格常数c.电学性能测试证明LaAlO3顶层结构的存在极大地改善了超晶格薄膜的电学性能,使其剩余极化强度增加了40多倍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓宏	电子科技大学微电子与固体电子学院材料物理与化学系	72	653	14.0	22.0
2	李燕	电子科技大学微电子与固体电子学院材料物理与化学系	29	259	9.0	15.0