多边形逼近方法在测量芯片粘贴空洞的应用

• 作者: 张勇 张锋
• 来源期刊: 现代测量与实验室管理
• 学科: 数学
• 关键词: 多边形逼近 点 图像特征 测量
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 计量测试
• 页码范围: 3-6
• 页数: 4页
• 分类号: O17
• 字数: 2545字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8764.2007.03.001

摘要

中本文介绍了采用多边形逼近方法获取芯片粘贴空洞图像特征点,使用较少的点来表达图形的完整信息,并对芯片粘贴空洞面积进行准确测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张勇	中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心	40	200	6.0	13.0
2	张锋	中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心	4	1	1.0	1.0