CCD数码成像设备坏点和噪点的软件测试法

• 作者: 李天华 董水金
• 来源期刊: 重庆科技学院学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 测试 电荷耦合器件 数码相机 数码摄像机 坏点 噪点
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 页码范围: 113-115
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 2634字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1980.2007.04.036

摘要

基于家用计算机平台与Dead Pixel Test软件.分析用Dead Pixel Test软件测试CCD数码成像设备的坏点、噪点的方法,并以常见的数码相机和数码摄像机为例介绍一些测试技巧.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李天华		36	118	6.0	9.0
2	董水金		16	43	3.0	6.0