(Pb1-xSrx)TiO3系铁电陶瓷介电特性的测试分析

• 作者: 孙平 王茂祥
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: (Pb1-xSrx)TiO3铁电陶瓷 介电特性 测试分析
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 工艺
• 页码范围: 32-34,38
• 页数: 4页
• 分类号: TG174
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4381.2007.04.008

摘要

采用常规陶瓷工艺掺杂不同含量的分析纯SiO2和La2O3,在不同烧结温度下, 制备了系列(Pb1-xSrx)TiO3(简称PST)铁电陶瓷.对所制备的PST铁电陶瓷的介电特性进行了测试分析.1250℃烧结温度较1200℃烧结温度下样品在居里点处的温度系数α有所提高,介电常数ε略高(均在103量级),介电损耗D略有降低.随着工作频率的增加,样品介电常数有较明显的下降,介电损耗D略有增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王茂祥	南京大学工程管理学院	12	26	3.0	5.0