基于TEmb和V模型的嵌入式软件测试方案

• 作者: 刘淑平 庞灵
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 软件测试 TEmb 改进的V模型
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 55-57,61
• 页数: 4页
• 分类号: TP31
• 字数: 3262字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2007.12.016

摘要

本文主要针对嵌入式软件测试的特点,通过对传统模型V模型的分析,找出V模型的不足,并对其改进.利用TEmb(Testing Embedded software)方法的思想与改进的V模型相结合提出了一种通用的嵌入式软件测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘淑平	华北电力大学计算机学院	31	159	7.0	11.0
2	庞灵	华北电力大学计算机学院	4	5	2.0	2.0