窄脉冲半导体激光器峰值功率测量方法研究

• 作者: 张贵军
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 峰值功率 脉宽 测量不确定度
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 显微、测量、微细加工技术与设备
• 页码范围: 268-270
• 页数: 3页
• 分类号: TN248.4|TN304.07
• 字数: 2769字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4776.2007.05.011

摘要

介绍一种利用示波器和光电转换装置同时测试窄脉冲半导体激光器的脉宽和功率的方法,主要分析了影响测量的几个因素,给出测量不确定度.该方法用示波器直接测量脉冲宽度,根据测量电压与激光脉冲功率的正比例关系,同时获得窄脉冲半导体激光器的脉宽和功率.经理论分析和试验验证均能满足对窄脉冲半导体激光器的脉宽和功率测量需要,在808～1064 nm波长范围内做过多波长测量试验,测量结果令人满意.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张贵军	中国电子科技集团公司第十三研究所	4	23	3.0	4.0