用光谱分析进行低硅钒钛生铁的质量控制研究

• 作者: 税必刚
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 原子发射光谱法 钒钛生铁控制样品 X射线衍射分析 扫描电子显微镜
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 实验技术与方法
• 页码范围: 192-193,203
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.3
• 字数: 1348字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2007.04.009

摘要

通过使用X射线衍射仪(XRD)及扫描电子显微镜(SEM)对光谱分析用的控制样品进行相分析和显微分析,同时对光谱控制样品的取样、组织和结构等方面也进行了研究,以保证光谱分析量值传递的规范、严谨,确保光谱分析的准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	税必刚	攀枝花钢铁有限公司钢铁研究院	6	15	3.0	3.0