铝电解质分子比的X-射线荧光光谱法测定

• 作者: 张鹏 舒军 高新华
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 电解质 分子比 X-射线荧光光谱法 测定
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与试验报告
• 页码范围: 24-28
• 页数: 5页
• 分类号: O6
• 字数: 2265字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2007.02.005

摘要

铝电解质分子比是铝电解生产中的一项重要指标,本文用X射线荧光光谱法测定电解质中各化合物的浓度,达到计算分子比的目的.将研磨到一定粒度的样品在300 kN的压力下压成圆片,然后在优化的条件下进行测定.采用电解质标样建立校准曲线,物理和化学影响采用数学方法校正,通过应用软件中的函数计算功能,根据测定元素的浓度自动计算分子比.该方法已用于多元铝电解质分子比的测定,测定结果与X射线衍射法相符.对同一样品进行14次平行测定,所得到的相对标准偏差为0.48%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高新华		6	79	5.0	6.0
2	张鹏		1	11	1.0	1.0