DV810A热阻测试系统不稳定问题分析与解决

• 作者: 吴泽伟 杨燮斌
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 热阻测试系统 运算放大器 数/模转换器
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 页码范围: 75-77
• 页数: 3页
• 分类号: TM712

摘要

围绕DV810A热阻测试系统测试不稳定问题，通过逐步检查与故障现象有关的相关因素最后查出了根源所在，从而解决了这种不稳定问题。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴泽伟		4	0	0.0	0.0
2	杨燮斌		6	0	0.0	0.0