基于DS2172和DS21554的误码测试仪设计

• 作者: 杨海涛 纪海林
• 来源期刊: 自动化仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 误码测试仪 E1接口 随机间隔 芯片 图形化
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 智能检测技术
• 页码范围: 18-20
• 页数: 3页
• 分类号: TP216
• 字数: 2437字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0380.2007.10.006

摘要

介绍了一种采用误码专用测试芯片DS2172和E1接口芯片DS21554的误码测试仪的设计方案.该误码测试仪可以完成2048kbps速率及一些较低速率的误码测试,提供E1接口及TTL接口两种模式,同时提供伪随机码和人工码两种测试码型,详细介绍了具体的硬件电路设计和具体的软件设计.设计结果表明该误码仪可以完成误码测试、误码统计及误码率的计算,能够满足数字传输系统常见故障的检测需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨海涛		10	29	3.0	5.0
2	纪海林		3	16	2.0	3.0