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摘要:
采用微生物学方法研究了硫酸盐还原菌(SRB)在不同Cl-浓度时的生长情况,结果表明Cl-具有抑制SRB生长的作用,随着Cl-浓度的增加,抑制作用更加明显.采用动电位扫描法研究了Cr17Ni2电极在2.0%Cl-菌液中开路电位和点蚀电位随SRB生长时间的变化规律,结果表明在2.0%Cl-的菌液中的开路电位随时间的增加而逐渐负移,点蚀电位在0~8 d缓慢负移,8~10 d负移较大,这与Cl-对SRB生长的影响有关,是Cl-和SRB共同作用的结果.
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文献信息
篇名 Cl-对Cr17Ni2在硫酸盐还原菌菌液中电化学行为的影响
来源期刊 材料保护 学科 工学
关键词 硫酸盐还原菌 微生物腐蚀 动电位扫描 不锈钢 Cl-
年,卷(期) 2007,(1) 所属期刊栏目 试验研究
研究方向 页码范围 16-18
页数 3页 分类号 TG172.7
字数 2426字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-1560.2007.01.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李松梅 北京航空航天大学材料科学与工程学院 130 1251 19.0 26.0
2 刘建华 北京航空航天大学材料科学与工程学院 173 1628 21.0 28.0
3 梁馨 北京航空航天大学材料科学与工程学院 9 64 4.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
硫酸盐还原菌
微生物腐蚀
动电位扫描
不锈钢
Cl-
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
材料保护
月刊
1001-1560
42-1215/TB
大16开
湖北省武汉宝丰二路126号
38-30
1960
chi
出版文献量(篇)
7754
总下载数(次)
26
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