碳酸盐岩储层高电阻率影响因素探讨

• 作者: 司马立强 张树东 王兆年 齐宝权
• 来源期刊: 西南石油大学学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 双侧向 模型模拟 裂缝 饱和度 流体性质 侵入深度
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 地质勘探
• 页码范围: 26-29
• 页数: 4页
• 分类号: P61
• 字数: 2979字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3863/j.issn.1674-5086.2007.01.009

摘要

与砂泥岩地层相比,碳酸盐岩地层常以高电阻率、深浅双侧向大幅度差异为特征.而影响碳酸盐岩地层电阻率高低的因素众多,由此造成储层的划分和流体性质解释难度较大.结合实测资料和模型模拟结果,对影响双侧向测量值和差异的各种因素逐一进行了分析,这些影响因素包括井眼大小、裂缝、岩性、流体电阻率、侵入深度等.总结了各种因素对双侧向测量值的影响程度,较好地解释了碳酸盐岩地层电阻率巨大起伏的原因和储层电阻率复杂多变的特性.该分析结果有助于更深入地认识碳酸盐岩地层中双侧向的变化规律,对储层进行更为精确的解释.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	司马立强		78	607	14.0	17.0
2	张树东		14	194	10.0	13.0
4	齐宝权		6	123	6.0	6.0
10	王兆年		4	23	3.0	4.0