JTAG界面——一个供IC用的标准测试界面

• 作者: 吴腾奇
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: JTAG 寄存器 指令
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 产品测试与解决方案
• 页码范围: 81-86
• 页数: 6页
• 分类号: TP3
• 字数: 5110字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2007.02.021

摘要

针对大规模集成电路中利用传统的探针测试方法浪费时间,不能检测IC引脚内部信号的原因.本文系统地论述了JTAG如何来解决上述问题的的方法和手段,以及JTAG的指令.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴腾奇	华南师大物理系	5	1	1.0	1.0