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摘要:
多片 ADC 芯片并行时间交替采样能有效地提高系统的采样速率.但由于多种因素的影响.多个ADC通道间存在失配误差.严重降低了采集系统的性能.文章提出了一种多片 ADC 拼接系统的实现方法,该方法采用 Nios Ⅱ软核计算出多个ADC 通道间的误差,并在 FPGA 后端校正输出高速、高精度的数字信号.
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内容分析
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文献信息
篇名 基于Nios Ⅱ的三片ADC并行采集系统的设计
来源期刊 实验科学与技术 学科 工学
关键词 时间交替 增益误差 偏置误差 时间误差 Nios Ⅱ软核
年,卷(期) 2007,(6) 所属期刊栏目 实验技术
研究方向 页码范围 20-22,144
页数 4页 分类号 TP274.2
字数 2010字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-4550.2007.06.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王洪 电子科技大学电子工程学院 53 499 12.0 19.0
2 宁洪 电子科技大学电子工程学院 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
时间交替
增益误差
偏置误差
时间误差
Nios Ⅱ软核
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
实验科学与技术
双月刊
1672-4550
51-1653/T
大16开
四川省成都市建设北路二段4号
62-287
2003
chi
出版文献量(篇)
5811
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11
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26929
论文1v1指导