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摘要:
电磁辐射是导致电子设备失效的最主要的因素,而腐蚀又是导致电磁屏蔽材料屏蔽效力降低的重要原因。在电子设备高度集成的航天器中,任何细微的干扰或腐蚀,都可能酿成不可预计的后果。
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文献信息
篇名 航天器的电磁屏蔽与腐蚀防护
来源期刊 国外科技新书评介 学科 航空航天
关键词 电磁屏蔽材料 腐蚀防护 航天器 电子设备 设备失效 电磁辐射 高度集成
年,卷(期) 2007,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 13
页数 1页 分类号 V448.22
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1 张志颖 中国科学院理化技术研究所 10 77 6.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
电磁屏蔽材料
腐蚀防护
航天器
电子设备
设备失效
电磁辐射
高度集成
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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北京市海淀区中关村北四环西路33号
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