VXI/PXI开关模块在自动测试系统中的应用

• 作者: 田旭光 蔡金燕
• 来源期刊: 兵工自动化
• 学科: 工学
• 关键词: VXI/PXI开关模块 自动测试系统 开关系统配置 测量不确定度 抗干扰设计
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 所属期刊栏目: 自动测量与控制
• 页码范围: 60-62
• 页数: 3页
• 分类号: TP206.1|TP274.5
• 字数: 2655字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-1576.2007.07.030

摘要

VXI/PXI开关模块在自动测试系统中的配置应首先分析ATS系统资源结构和用户测试需求,使效率/费用比最大.其次,采用模块化可扩展开关系统结构,预留扩展空间,使测试系统向上兼容.最后通过分析不确定来源,对开关系统和激励源引入的不确定度进行分析,并对开关系统在信号传输过程中引起的干扰采取抗干扰设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡金燕	军械工程学院光学与电子工程系	144	811	13.0	18.0
2	田旭光	军械工程学院光学与电子工程系	6	48	3.0	6.0