基于V码的高可靠性磁盘阵列容错模型

• 作者: 万武南 孟庆春 王晓京
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: V码 RAID 纠错码
• 年，卷（期）: 2007,（8）
• 所属期刊栏目: 博士论文
• 页码范围: 3-5,13
• 页数: 4页
• 分类号: TP302.8
• 字数: 3871字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2007.08.002

摘要

在磁盘阵列模型中,关键是如何实现容许多个磁盘阵列故障使得系统性能达到最优.该文提出了一类新的纠双错编码――V码,使用该编码的磁盘阵列数据布局,阵列的盘数可以为偶数,校验信息均匀分散在阵列每个盘中,容许任意2个磁盘故障.与其它纠双码的磁盘阵列布局进行比较,当阵列盘数为偶数时,V码阵列布局具有最优性能,编译码复杂度、冗余率达到最低以及小写性能最优,利于解决磁盘阵列I/O问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王晓京	中国科学院成都计算机应用研究所	32	339	9.0	17.0
2	孟庆春	中国科学院成都计算机应用研究所	8	67	5.0	8.0
3	万武南	中国科学院成都计算机应用研究所	27	143	6.0	11.0