TCAS系统元件级深度维修测试设备研发

• 作者: 王力
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: TCAS 元件级测试修理 测试系统 航空电子系统
• 年，卷（期）: 2007,（13）
• 所属期刊栏目: 故障诊断
• 页码范围: 234-235,246
• 页数: 3页
• 分类号: TP273
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2007.13.095

摘要

目前TCAS处理器测试系统可以进行板卡级测试,不能进行元件级的深度测试与维修.本文分析对TCAS系统故障板卡的元件级深度测试和维修,实现对TCAS系统主要板卡的元件级故障测试、定位与维修,测试系统经调试与运行,效果良好.