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摘要:
本文基于四事件周期波形模型,提出了一般动态门、LO-CMOS、NTP动态门和N-C2MOS锁存器正确工作的时序约束.将混合时序分析方法应用于动态电路的延时计算,提出了动态门延时测试波形的生成算法,能有效处理多个输入同时翻转对延时的影响.本文的研究成果已在SpiceTime中实现,并且应用于一个32位动态加法器的设计,取得了良好效果,如果不考虑伪路径的影响,求值延时和预充延时的最大误差分别为3.62%和8.26%.
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文献信息
篇名 动态电路的混合时序分析方法
来源期刊 电子学报 学科 工学
关键词 动态电路 时序验证 混合时序分析方法 测试波形生成
年,卷(期) 2008,(8) 所属期刊栏目 学术论文
研究方向 页码范围 1571-1576
页数 6页 分类号 TP302
字数 7582字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0372-2112.2008.08.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈书明 国防科技大学计算机学院 65 467 11.0 18.0
2 陈吉华 国防科技大学计算机学院 15 57 4.0 7.0
3 李勇 国防科技大学计算机学院 26 900 10.0 26.0
4 李振涛 国防科技大学计算机学院 9 20 3.0 4.0
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动态电路
时序验证
混合时序分析方法
测试波形生成
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电子学报
月刊
0372-2112
11-2087/TN
大16开
北京165信箱
2-891
1962
chi
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