X荧光光谱法测定锡酸铅TDI还原型催化剂中锡和铅含量

• 作者: 张皋 王婧娜 胡岚 郭三民 高朗华
• 来源期刊: 分析测试技术与仪器
• 学科: 化学
• 关键词: X荧光光谱 锡酸铅 测试误差
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 分析测试成果
• 页码范围: 46-49
• 页数: 4页
• 分类号: O657.32
• 字数: 2478字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-3757.2008.01.011

摘要

报道了一种准确度高、分析步骤简单的锡酸铅TDI 还原型催化剂中锡和铅含量的X射线荧光光谱方法(XRF).设计制备了标准样品,研究了仪器测试条件下元素峰位的选择和背景扣除方法.结果表明: X荧光光谱法在不破坏样品的前提下完成对二氧化锡和铅含量的同时测定,重复实验10次,Pb实验相对标准偏差为0.37%;SnO2实验相对标准偏差0.61%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张皋		87	394	10.0	13.0
2	胡岚		33	184	8.0	12.0
3	高朗华		9	44	4.0	6.0
4	王婧娜		19	55	5.0	6.0
5	郭三民		1	3	1.0	1.0