分子谱线参数测量新方法

• 作者: Hiroyuki Sasada 谈图 高晓明
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 光谱学 F-P腔 分子谱线参数 吸收 多光束干涉
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 光谱
• 页码范围: 135-138
• 页数: 4页
• 分类号: O433.1|O562.3
• 字数: 1250字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2008.02.002

摘要

介绍了一种利用F-P腔透射峰宽度测量分子谱线参数的新方法,论文从多光束干涉叠加原理出发,推导出有样品气体吸收的F-P腔的透过率函数,F-P腔的透过率是样品气体吸收线型的函数,随着样品吸收的增加,F-P腔透射条纹宽度增加.实验测量得到的谱线强度与HITRAN2004数据库数据、谱线宽度与理论计算结果很好地一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈图	中国科学院安徽光学精密机械研究所环境光谱学实验室和大气光学研究中心	21	98	6.0	9.0
2	高晓明	中国科学院安徽光学精密机械研究所环境光谱学实验室和大气光学研究中心	64	380	11.0	16.0