碳纤维结构的常用表征技术

• 作者: 侯锋辉 李崇俊 李瑞珍 邓红兵
• 来源期刊: 纤维复合材料
• 学科: 工学
• 关键词: 碳纤维 表征 X射线衍射 透射电子显微镜 X光电子能谱 小角X射线散射
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 原材料
• 页码范围: 18-20,31
• 页数: 4页
• 分类号: TQ34
• 字数: 2764字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6423.2008.03.005

摘要

本文结合近几年的研究报道,归纳了决定碳纤维性能及应用的两个方面内部体结构和表面结构的一些常用表征技术.碳纤维聚集态的表征主要通过X-射线衍射(广角、小角)、电子衍射;碳纤维形态结构特征常用透射电子显微镜;碳纤维表面结构的表征方法有扫描电子显微镜(SEM),原子力显微镜(AFM),扫描隧道显微镜(STM)以及扫描力显微镜(SFM).其中,SEM能够看到整个纤维的表面形貌,而AFM、STM、SFM用于表面几个纳米到几百个纳米范围的形貌分析.此外,表面化学状态(表面成分、表面官能团)表征主要依靠X光电子能谱.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯锋辉		4	28	2.0	4.0
2	邓红兵		4	36	2.0	4.0
3	李崇俊		28	215	8.0	13.0
4	李瑞珍		35	194	8.0	11.0