高线性模拟光耦在膛压测试中的应用

• 作者: 张明安 李媛 黄凯
• 来源期刊: 火炮发射与控制学报
• 关键词: 电子技术 膛压测试 隔离 线性光耦
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 29-32
• 页数: 4页
• 分类号: TJ012.1+6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-6524.2008.04.008

摘要

在电热化学炮工作过程中,伴随着高电压和强电流放电现象,会产生强电磁干扰.特别是电热化学炮工作过程中产生的电位浮动对测试仪器有严重的冲击.为了保证仪器的安全,采用高线性模拟光耦HCNR200组成隔离放大电路,利用光电隔离的原理实现了对膛压测试线路的隔离保护.对该放大电路与压阻式压力传感器组成的测试系统进行了静态标定,结果表明,该系统满足膛压测试的要求,并已成功地应用于等离子点火条件下的密闭爆发器试验,获得了完整的压力时间曲线.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明安		8	47	4.0	6.0
2	李媛		5	6	2.0	2.0
3	黄凯		6	30	3.0	5.0