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摘要:
介绍了半导体激光器寿命测试的理论依据,给出了由电流应力决定的寿命测试的数学模型,据此对AlGaInAs/AlGaAs/GaAs 808 nm大功率半导体激光器进行常温电流步进加速老化实验.由步进加速老化的理论依据及数学模型推算出了步进加速寿命实验时间折算公式,利用步进加速寿命实验时间折算公式推算出了器件在额定应力条件下工作的寿命结果;根据实验后器件的失效模式分析,与恒定应力加速老化方式下的实验结果相对比分析,确认该步进加速实验方法可以适用于半导体激光器的加速老化.
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关键词云
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文献信息
篇名 大功率半导体激光器步进加速老化研究
来源期刊 微纳电子技术 学科 工学
关键词 大功率半导体激光器 电流步进 加速老化 寿命 失效模式
年,卷(期) 2008,(9) 所属期刊栏目 纳米器件与技术
研究方向 页码范围 508-511
页数 4页 分类号 TN248.4|TN306
字数 1573字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-4776.2008.09.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 安振峰 中国电子科技集团公司第十三研究所 31 150 7.0 10.0
2 李雅静 中国电子科技集团公司第十三研究所 5 25 3.0 5.0
6 王德宏 中国电子科技集团公司第十三研究所 4 32 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
大功率半导体激光器
电流步进
加速老化
寿命
失效模式
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微纳电子技术
月刊
1671-4776
13-1314/TN
大16开
石家庄市179信箱46分箱
18-60
1964
chi
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