系统芯片测试调度模型及其调度算法

• 作者: 柳青梅 牟光臣 陈新武
• 来源期刊: 信阳师范学院学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 系统芯片 调度算法 测试资源 IP核 ITC02测试基准电路
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 应用技术研究
• 页码范围: 294-296,300
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2756字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0972.2008.02.039

摘要

系统芯片的设计是基于IP核的设计,整个芯片的测试包括各个IP核和粘合逻辑的测试.根据测试基准模型ITC02建立了系统芯片测试调度模型,该模型假定系统芯片的每个模块有若干个可供选择的测试资源,已知使用每个测试资源所完成该测试的时间和功耗.在最大功耗约束下,提出了一种通用的测试调度算法,并针对构造的基准电路,给出了该调度算法的实现结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	牟光臣	河南机电高等专科学校电子信息工程系	22	22	4.0	4.0