X射线荧光光谱法同时测定石灰石中主次痕量组分

• 作者: 余宇 党亮 刘江斌 曹成东 谈建安 赵峰 陈月源
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 主次痕量组分 同时测定 石灰石 熔融玻璃片 粉末压片
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 149-150
• 页数: 2页
• 分类号: O657.34|P619.263
• 字数: 2038字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2008.02.016

摘要

采用熔融玻璃片和粉末压片法制样,选用标准样品,以经验α系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,用ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪对石灰石样品中CaO、Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、K2O、TFe2O3、P2O5、TiO2、MnO和S等主次痕量组分进行测定,分析结果与标准值和化学值相符,12次测定的相对标准偏差小于10%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘江斌		25	215	9.0	14.0
2	党亮		11	87	5.0	9.0
3	余宇		5	104	5.0	5.0
4	赵峰		5	91	4.0	5.0
5	陈月源		18	201	8.0	14.0
6	曹成东		4	72	4.0	4.0
7	谈建安		10	99	6.0	9.0