高压储能电容器内部与油质缺陷的直流局部放电

• 作者: 吴广宁 张血琴 曲衍宁 李晓华 王鹏 边姗姗
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 高压储能电容器 直流局部放电 有限元仿真 缺陷 参量
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 电器
• 页码范围: 76-81
• 页数: 6页
• 分类号: TM835|TM531
• 字数: 2792字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6753.2008.02.013

摘要

直流局部放电(DCPD)测试技术是评估高压储能电容器绝缘性能的有效手段,其中利用DCPD参量表征缺陷对电容器绝缘状态的影响程度是关键问题.为了分析缺陷与DCPD参量之间的关系,本文针对两种基本缺陷--内部和油质缺陷,进行了有限元仿真,局部放电参量与介质缺陷物理参数关系的讨论,以及两类含缺陷的电容器的DCPD测试.三种方法得到的结果相互验证,表明内部缺陷对绝缘介质的影响更大,虽然油质缺陷对绝缘介质的影响较小,但仍应避免此类缺陷的形成.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	李晓华	西南交通大学电气工程学院	12	73	5.0	8.0
3	张血琴	西南交通大学电气工程学院	49	680	12.0	26.0
4	边姗姗	西南交通大学电气工程学院	15	110	6.0	10.0
5	王鹏	西南交通大学电气工程学院	67	665	15.0	23.0
6	曲衍宁	西南交通大学电气工程学院	5	38	4.0	5.0