X-射线衍射与火焰原子吸收法联合测定ZnS:Mn薄膜屏中Mn含量

• 作者: 任新光
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 化学
• 关键词: XRD FAAS Zn Mn交流电致发光薄膜
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 642-644
• 页数: 3页
• 分类号: O657.31|O722+.4|TN304.2+5
• 字数: 1589字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2008.05.024

摘要

提出一种X-射线衍射(XRD)与火焰原子吸收法(FAAS)联合测定ZnS:Mn交流电致发光(ACEL)薄膜中Mn含量的新方法.首先用XRD测定ZnS薄膜的结构,判断薄膜是否符合它的化学式量.在符合化学式量基础上,再用FAAS分别测定Zn与Mn的质量分数,最终确定Mn在ZnS薄膜中的含量.与单独采用FAAs测定相比较,测定结果的相对误差,相对标准偏差相同.但是,该方法具有样品处理简单,分析周期短,所需样品量少等优点.不仅可以提供Mn在ZnS薄膜中的含量与构成质量,同时也可以对ZnS:Mn交流电致发光膜薄的浓度分布以及均匀度提供客观的评价指标,以利于镀膜工艺中各参数指标的改善.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任新光	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所激发态物理重点实验室	10	83	4.0	9.0