用电位法测试导体表面裂纹深度

• 作者: 余波 孙朝明 李建文 王增勇
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 物理学
• 关键词: 直流电位法 裂纹深度 导体表面 深度测试 测量精度 结构组件 表面裂纹 断裂分析
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 80-81
• 页数: 2页
• 分类号: O346.1

摘要

裂纹是结构组件中最具危险性的缺陷，在表面裂纹被探出后，对断裂分析和构件修复来说裂纹深度测试是非常重要的实际问题。电位法检测裂纹深度的原理是基于电位探针理论，当被测量金属表面两点间有裂纹存在时，其两点间电阻比无裂纹表面的电阻高。其特点是仅需从试件的一侧进行测量而不受背面条件的限制，适用于一切导电试件，且由于趋肤效应的存在，使交流电位法的测量精度较直流电位法高。