扫描激光激发瑞利波探测材料表面微缺陷

• 作者: 倪晓武 关建飞 沈中华 石一飞 陆建
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 激光技术 超声学 扫描激光线源技术 瑞利波 缺陷探测
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 信号检测、算法与仿真
• 页码范围: 44-48
• 页数: 5页
• 分类号: TN249|O462.1
• 字数: 2903字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2008.01.008

摘要

提出了一种无损探测材料表面微小缺陷的新方法,利用移动扫描激光线源在材料表面激发的超声瑞利波,结合自行改进的差分式光偏转探测系统接收该超声波信号,并对该探测系统的测试原理进行了讨论;在利用系统进行实验研究时观察到:当激发激光源接近材料表面的人工缺陷时,探测信号的幅度会发生显著变化.通过对信号幅度变化规律的特征分析,可以对材料表面的微小缺陷进行诊断,亦证实了扫描激光线源技术在材料表面微小缺陷无损检测方面具有的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆建	南京理工大学信息物理与工程系	172	1702	21.0	27.0
2	沈中华	南京理工大学信息物理与工程系	128	1273	20.0	26.0
3	倪晓武	南京理工大学信息物理与工程系	227	2204	23.0	31.0
4	石一飞	南京理工大学信息物理与工程系	7	83	4.0	7.0
5	关建飞	南京邮电大学光电工程学院	25	96	6.0	8.0