佛克脱线型HeⅠ1083.0 nm共振线逃逸几率的计算

• 作者: 张庆国 贺健
• 来源期刊: 河南科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 氦辐射线 逃逸几率 佛克脱线型 光学深度
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 数理科学
• 页码范围: 94-97
• 页数: 4页
• 分类号: O562.3
• 字数: 2009字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6871.2008.04.025

摘要

基于精确佛克脱线型的表达式,对于平板几何体和柱形几何体,计算了组成He Ⅰ 1 083.0 nm共振线1 083.034 nm,1 083.025 nm和1 082.908 nm三条线的逃逸几率,同时计算了吸收原子在基态的原子数密度,分析了逃逸因子对谱线中心光学深度的影响.理论分析和实验结果相一致,此计算对于探测太阳或其它天体中氦的浓度具有一定参考意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张庆国	河南科技大学理学院	30	125	6.0	10.0
2	贺健	河南科技大学理学院	23	87	4.0	9.0