共振逃逸因子对极光O(1D)630nm谱线的影响

• 作者: 张华桥 张庆国 贺健 赵晓艳
• 来源期刊: 河南科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 电离层 高斯线型 光学厚度 逃逸因子
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 数理科学
• 页码范围: 94-97
• 页数: 4页
• 分类号: O562.3
• 字数: 2512字
• 语种: 中文

摘要

为了研究O(1D)630 nm谱线在电离层的辐射传输特性,采用理论分析的方法,计算了该谱线中心的共振逃逸因子,并以此为例介绍了高斯线型逃逸因子的一般计算方法；在计算过程中,通过对电离层中氧原子的原子数密度的分析讨论,计算了不同高度的光学厚度,指出基态原子数密度和光学厚度是影响逃逸因子的两个重要因素.本研究对利用极光探测大气风场具有重要参考意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵晓艳	河南科技大学物理与工程学院	9	22	3.0	4.0
2	张庆国	河南科技大学物理与工程学院	30	125	6.0	10.0
3	贺健	河南科技大学物理与工程学院	23	87	4.0	9.0
4	张华桥	河南科技大学物理与工程学院	2	1	1.0	1.0