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摘要:
在推广表面磨削技术大量实践的基础上,对表面磨削工艺和双面研磨工艺进行了对比,通过实验的方法,对切割后的锗片表面用四种不同粒度的砂轮进行磨削,对磨削后晶片的厚度、TTV、Ra、损伤层进行了测试,结果表明,晶片的Ra、损伤层随着砂轮粒度的降低而降低,使用1500#砂轮获得了较理想的表面粗糙度(0.10~0.15 μm).
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文献信息
篇名 超薄锗片背面磨削技术的研究
来源期刊 电源技术 学科 工学
关键词 锗片 研磨 磨削 砂轮 表面粗糙度
年,卷(期) 2008,(12) 所属期刊栏目 研究与设计
研究方向 页码范围 870-872
页数 3页 分类号 TM910.5
字数 2306字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-087X.2008.12.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 马玉通 中国电子科技集团公司第四十六研究所 13 31 4.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
锗片
研磨
磨削
砂轮
表面粗糙度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电源技术
月刊
1002-087X
12-1126/TM
大16开
天津296信箱44分箱
6-28
1977
chi
出版文献量(篇)
9323
总下载数(次)
56
总被引数(次)
55810
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