单通道和双通道微波衰减测量系统中的射频泄漏分析

• 作者: 吴勇 蔡斯伟
• 来源期刊: 宇航计测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 衰减测量 射频泄漏 锁相放大器 电磁屏蔽
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TM933.3
• 字数: 2607字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7202.2008.05.001

摘要

研究了单通道和双通道微波衰减测量系统中的射频泄漏所导致的测量误差.使用电磁屏蔽箱和以铝片包裹连接头的方法降低外部辐射泄漏,在双通道衰减测量系统中使用隔离器以减小内部泄漏.利用高灵敏度锁相放大器测量了射频泄漏信号,通过在60 MHz和5 GHz所得的实测数据比较了单通道和双通道衰减测量系统的射频泄漏误差.实验结果表明射频泄漏得到了有效的抑制.