耗散腔场中两原子间的纠缠特性

• 作者: 周本元 张立辉 李高翔 黄晖
• 来源期刊: 华中师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 耗散腔场 二能级原子 纠缠度 部分转置矩阵负本征值
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 页码范围: 376-380
• 页数: 5页
• 分类号: O431.2
• 字数: 3663字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1190.2008.03.014

摘要

研究了在大失谐条件下一位于能量耗散腔中,两个二能级原子与单模辐射场相互作用系统中原子间纠缠的时间演化特性,讨论了两原子的初始状态、腔场衰变常数以及光场的平均光子数对原子纠缠度的影响.结果表明:当两原子均处于激发态或基态时,两原子始终处于分离状态;而当两原子初始均处于激发态与基态的相干叠加态时,腔场损耗对原子纠缠度的影响随时间的演化逐渐消失,但原子偶极-偶极相互作用使原子间的纠缠程度得到加强.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张立辉	江汉大学物理与信息工程学院	26	67	4.0	7.0
2	黄晖	华中帅范大学物理科学与技术学院	1	0	0.0	0.0
3	周本元	华中帅范大学物理科学与技术学院	1	0	0.0	0.0
4	李高翔	华中帅范大学物理科学与技术学院	1	0	0.0	0.0