耗散腔场中双光子Tavies—Cummings模型量子纠缠分析

• 作者: 伊健 邬云文
• 来源期刊: 吉首大学学报：自然科学版
• 学科: 物理学
• 关键词: 双光子Tavies—Cummings模型 量子相干 共生纠缠度 自发辐射系数 腔场的损耗
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 物理与电子
• 页码范围: 50-54
• 分类号: O431
• 字数: 2395字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2985.2011.04.012

摘要

用共生纠缠度度量的方法来研究两原子在耗散和非耗散腔场中的量子纠缠．研究结果表明：通过控制相互作用时间能够制备出最大纠缠态；且由于原子的双光子跃迁，导致双光子Tavies—Cummings模型是单光子Tavies—Cummings模型在制备最大纠缠态上所需要的时间的．且原子的自发辐射和腔场的损耗使得两原子的最大相干随时间呈周期性减小．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邬云文	吉首大学物理科学与信息工程学院	32	114	5.0	10.0
2	伊健	吉首大学物理科学与信息工程学院	3	2	1.0	1.0